肩胛上神经卡压综合症视频,免费观看的欧美国产黄片视频,日本一区二区三区四区五区乱码,欧美1区2区3区在线观看

技術文章您的位置:網(wǎng)站首頁 >技術文章 >半導體測試系統(tǒng)

半導體測試系統(tǒng)

更新時間:2020-05-11   點擊次數(shù):1109次

為保持正確性和一致性,測試系統(tǒng)需要進行定期校驗,用以保證信號源和測量單元的精度。

       當一個測試系統(tǒng)用來驗證一片晶圓上的某個獨立的Die的正確與否,需要用ProbeCard來實現(xiàn)測試系統(tǒng)和Die之間物理的和電氣的連接,而ProbeCard和測試系統(tǒng)內(nèi)部的測試儀之間的連接則通過一種叫做“Load board”或“Performance board”的接口電路板來實現(xiàn)。在CP測試中,Performance boardProbe card一起使用構成回路使電信號得以在測試系統(tǒng)和Die之間傳輸。

       Die封裝出來后,它們還要經(jīng)過FT測試,這種封裝后的測試需要手工將一個個這些獨立的電路放入負載板(Load board)上的插座(Socket)里,這叫手工測試(hand test)。一種快速進行FT測試的方法是使用自動化的機械手(Handler),機械手上有一種接觸裝置實現(xiàn)封裝引腳到負載板的連接,這可以在測試機和封裝內(nèi)的Die之間提供完整的電路。機械手可以快速的抓起待測的芯片放入測試點(插座),然后拿走測試過的芯片并根據(jù)測試pass/fail的結果放入事先定義好的相應的Bin區(qū)。

| | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | | |